光學(xué)測(cè)量?jī)x測(cè)量原理及應(yīng)用
2024-08-29
光學(xué)測(cè)量?jī)x測(cè)量原理及應(yīng)用：概述光學(xué)測(cè)量?jī)x是一種廣泛應(yīng)用于工程測(cè)量領(lǐng)域的精密儀器。它通過(guò)利用光的特性進(jìn)行測(cè)量，可以獲取高精度的測(cè)量結(jié)果。本文將介紹光學(xué)測(cè)量?jī)x的測(cè)量原理、工作原理以及在工程領(lǐng)域中的應(yīng)用。一、光學(xué)測(cè)量?jī)x的測(cè)量原理光學(xué)測(cè)量?jī)x是利用光的干涉、衍射、散射、干涉等原理進(jìn)行測(cè)量的儀器。其中，干涉和衍射是極常用的兩種原理。1. 干涉原理干涉是光的一個(gè)基本特性，是指在光的傳播中，當(dāng)兩束光在相遇時(shí)會(huì)產(chǎn)生 ...
